用户会出于各种原因而需要测量器件的阻抗。一个典型的情况是工程师们需要对用在其所设计的电路中的器件的阻抗特性进行测量，因为通常情况下这些器件的供应商只给出了器件阻抗值的额定数据。今天Aigtek88858cc永利官网就给大家具体介绍一下。

测量阻抗有几种不同的技术和方法，应该根据测量的频率范围、要测量的阻抗参数以及想要显示的测量结果来选择一个具体的测试技术。

自动平衡电桥技术在从毫欧到兆欧很宽的阻抗测量范围内有极高的测量精度，与之相适应的测量频率范围可以从几 Hz 到 110 MHz。

IV 和 RF-IV 技术在从毫欧姆到兆欧姆的阻抗测量范围内的测量精度同样很好，与之相适应测量频率范围可以从 40 Hz 到 3 GHz 左右。

传输 / 反射技术在非常宽的频率范围，从 5 Hz 到 110 GHz 以上，测量 50 欧姆或 75 欧姆附近的阻抗值时，具有非常高的测量精度。

LCR 表和阻抗分析仪的主要区别之一是它们对测量结果的显示方式。 LCR 表用数字显示测量结果，而阻抗分析仪既可以用数字也可以用图形显示测量结果。

LCR 表或阻抗分析仪所采用的测量技术和仪表的类型无关，根据测量的频率范围，它们可以采用 RF-IV、IV 或自动平衡电桥技术。

器件阻抗的测量结果还会受到在测量时所选择的测量信号的大小的影响。

电容值 ( 或材料的介电常数，即 K值 ) 的测量结果会依赖于交流测量信号电压值的大小。

电感值 ( 或材料的磁滞特性 ) 的测量结果会依赖于交流测量信号电流值的大小。

在测量时实际施加在被测器件两侧的交流电压 VDUT 是和它自身的阻抗、信号源的内阻以及信号源的输出电压有关的。

使用仪表的自动电平控制 (ALC)功能可使被测器件 (DUT) 两侧的电压保持在一个恒定的值上。如果仪表内部没有 ALC 功能但是有监测信号大小的功能，可以利用这个功能给这种仪表编写一个相当于 ALC 功能的控制程序来保证被测器件两端上的电压稳定。

在现实世界中没有器件是纯粹的的电阻、纯粹的电容、纯粹的电感。任何常用的器件通常都会有一些寄生参数 ( 例如由器件的引脚、材料等引起的寄生电阻、寄生电感和寄生电容 ) 存在，表现器件主要特性的部分和寄生参数部分结合在一起会使一个简单的器件在实际工作中表现得就像一个复杂的电路一样。

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